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透射電鏡(TEM/STEM)在鹵化物鈣鈦礦領(lǐng)域的應(yīng)用

課程介紹
講師介紹

透射電鏡(TEM/STEM)

在鹵化物鈣鈦礦領(lǐng)域的應(yīng)用

透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用電子束透過樣品進(jìn)行成像的顯微鏡。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，TEM能夠提供更高的分辨率，甚至可以觀察到原子級別的結(jié)構(gòu)。TEM的基本原理是通過電子束與樣品相互作用，形成明場和暗場圖像，從而揭示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。

Dr陳可樂，一位專注于鈣鈦礦材料穩(wěn)定性與封裝的光學(xué)物理博士，同時也是B站知名的鈣鈦礦領(lǐng)域科研up主，擁有超過3.3萬粉絲，已解讀超過200篇鈣鈦礦文獻(xiàn)，對鈣鈦礦材料的穩(wěn)定性與封裝有著深入的研究。

鈣鈦礦材料在光電領(lǐng)域因其卓越性能受重視，掌握其表征技術(shù)對理解材料特性關(guān)鍵。透射電鏡（TEM）作為高分辨率分析工具，廣泛應(yīng)用于鈣鈦礦微觀結(jié)構(gòu)研究，揭示納米級結(jié)構(gòu)如晶體、缺陷和元素分布，為材料優(yōu)化提供科學(xué)基礎(chǔ)。

在本次課程中，Dr陳可樂老師將與我們一同探討透射電鏡（TEM）和掃描透射電鏡（STEM）在鹵化物鈣鈦礦領(lǐng)域的應(yīng)用，主要包含：從鈣鈦礦器件橫截面的精細(xì)表征，到NiOx顆粒均質(zhì)化對性能的提升；從Al2O3多孔絕緣電極的形貌分析，到非晶材料在晶界位置的緩沖效果研究，每一項成果都彰顯了TEM/STEM技術(shù)的強(qiáng)大能力。

課程詳情

課程大綱：

1.透射電鏡的基本原理：TEM/STEM

2.TEM可以表征的數(shù)據(jù)

-形貌結(jié)構(gòu)

-晶格條紋（結(jié)晶，非晶，應(yīng)力等）

-物相識別（FFT和電子衍射）

-譜學(xué)表征總結(jié)

3.總結(jié)

報告嘉賓：

Dr陳可樂，專注于鈣鈦礦材料穩(wěn)定性與封裝的光學(xué)物理博士

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此外，我們還推薦一篇綜述文章《SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY》，為我們提供了更深入的理論知識。同時，也鼓勵大家通過視頻資源，如四川大學(xué)生物醫(yī)學(xué)工程學(xué)院和測試狗科研服務(wù)聯(lián)合推出的學(xué)術(shù)視頻：《免費公開課：TEM入門學(xué)術(shù)講座》以及《透射電鏡技術(shù)原理及樣品制備》來了解更多關(guān)于TEM技術(shù)的基礎(chǔ)知識和樣品預(yù)備方法。

最后，值得強(qiáng)調(diào)的是，本次課程我們提到的透射電鏡主要是由賽默飛世爾科技提供的，具體型號及特點如下：

Thermo Fisher Scientific Spectra 300 S/TEM：集STEM和TEM功能于一體，配備高靈敏度檢測器，實現(xiàn)快速成像，具備環(huán)境控制能力，以及用戶友好的操作界面，以適應(yīng)多樣化的實驗室環(huán)境。

Thermo Talos F200S：具備200kV高分辨率成像能力，搭載先進(jìn)的球差校正技術(shù)，支持多功能TEM/STEM模式，實現(xiàn)自動化操作流程，并配備高亮度場發(fā)射槍，以確保長時間實驗的穩(wěn)定性和圖像的清晰度。

用戶須知

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